Avantgarde 室溫電磁鐵探針臺不僅可以完成永磁鐵探針臺所能完成的測試，并且可以為樣品測試提供一個可變磁場，磁場較強，磁場均勻區(qū)較大。此款探針臺專門為在測量過程中需要連續(xù)磁場變化的實驗設計，在室溫下對芯片、晶圓和器件進行非破壞測試。
PSEM系列室溫電磁體探針臺是一款專門針對室溫可變磁場電測環(huán)境開發(fā)的探針臺，提供±0.6T垂直磁場或±0.3T水平磁場，能夠對2寸、4寸晶圓片進行重復性的、標準的電學實驗，外接不同的測試設備可以完成對器件的電學特性測量、參數(shù)測量、DC測量、RF測量和霍爾測量。

特點
? 樣品座可以放置最大4英寸的晶圓樣品，通過移動樣品座下面的滑臺，可以實現(xiàn)X-Y軸±50mm的移動行程，并且樣品座本身可以進行三維上的精細調節(jié)，使得樣品測試和換樣    更加便捷。
? 探針臂底座采用磁鐵吸附固定，可使探針在X-Y-Z三個維度上進行調節(jié)，配合樣品座位移調節(jié)，可滿足探針快速扎到最大4英寸樣品的任意位置（探針臂最多可安裝6個，水平    磁場電磁鐵探針臺最多可安裝4個）
? 探針臂采用三同軸線纜和三同軸接頭，漏電性小，漏電流在100fA以內，探針臂內置線纜，避免雜亂的走線
? 探針采用針套固定，只有針尖裸露在外，減小漏電
? 電磁鐵支架與探針臺采用分體隔離支架，在磁體運動時避免振動傳導到樣品上
? 樣品固定方式采用多孔分區(qū)吸附，有外圈、內圈和中間三個單獨控制的氣體吸附通道，最小可吸附固定1mm*1mm樣品
? CCD最大放大倍數(shù)為180倍，最大工作距離為100mm

型號分類：

參數(shù)和指標： 

• 集成電路
• 芯片
• 晶圓片